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微型探針冷熱臺是一款針對材料研究過程中變溫電學(xué)測試而設(shè)計的產(chǎn)品,可表征材料升溫和降溫階段,其電學(xué)性能隨溫度變化的特征。該產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實現(xiàn)樣品臺-190~600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制,可與電學(xué)儀表(如源表、萬用表等)搭配集成,進行變溫原位測試。
探針冷熱臺是面向材料變溫電學(xué)測試研發(fā)的專項設(shè)備,可精確表征材料在升降溫過程中電學(xué)性能的變化規(guī)律。 該設(shè)備在光學(xué)冷熱臺基礎(chǔ)上集成專項電學(xué)模塊,包含探針、位移及電學(xué)接口。通過調(diào)控探針位移,能實現(xiàn)針尖與樣品表面任意區(qū)域的精確接觸;電信號經(jīng)探針、信號線及接口等傳輸至源表、數(shù)字萬用表等外部測量儀器,從而采集電學(xué)數(shù)據(jù),完成材料不同溫度下電學(xué)特性的分析研究。
探針冷熱臺是面向材料變溫電學(xué)測試研發(fā)的專項設(shè)備,可精確表征材料在升降溫過程中電學(xué)性能的變化規(guī)律。 該設(shè)備在光學(xué)冷熱臺基礎(chǔ)上集成專項電學(xué)模塊,包含探針、位移及電學(xué)接口。通過調(diào)控探針位移,能實現(xiàn)針尖與樣品表面任意區(qū)域的精確接觸;電信號經(jīng)探針、信號線及接口等傳輸至源表、數(shù)字萬用表等外部測量儀器,從而采集電學(xué)數(shù)據(jù),完成材料不同溫度下電學(xué)特性的分析研究。
電控探針冷熱臺是一款針對材料研究過程中變溫電學(xué)測試而設(shè)計的產(chǎn)品,可表征材料升溫和降溫階段,其電學(xué)性能隨溫度變化的特征。 通過調(diào)節(jié)高精度自動位移臺(納米級),移動內(nèi)部探針位置,進行高精度的XYZ方向位移。采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實現(xiàn)-190~600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制,與其他電學(xué)儀表(如源表、萬用表等)搭配集成,進行變溫原位測試。
外置調(diào)節(jié)探針冷熱臺是一款針對材料研究過程中變溫電學(xué)測試而設(shè)計的產(chǎn)品,可表征材料升溫和降溫階段,其電學(xué)性能隨溫度變化的特征。 通過調(diào)節(jié)外部探針臂,移動內(nèi)部探針位置,進行高精度的XYZ方向位移。采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實現(xiàn)-190~600℃范圍內(nèi)精準(zhǔn)控制,可與電學(xué)儀表(如源表、萬用表等)搭配集成,進行變溫原位測試。
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